超小型高低溫試驗箱適用工業(yè)品高低溫的可靠性測試，是對電子電工、小車摩托車、航天航空、船只兵器圖片、高等學(xué)校、科研機(jī)構(gòu)等有關(guān)商品的零配件及原材料在高、超低溫交變電場循環(huán)系統(tǒng)轉(zhuǎn)變的狀況下，檢測其各類性能參數(shù)。

　　超小型高低溫試驗箱的溫度校正有下列方式，在實際上工作上必須依據(jù)具體情況挑選zui適合的方式，下邊我企業(yè)便對這幾類校正方式的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)開展詳細(xì)介紹。

　　一、在無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢是：超小型高低溫試驗箱的全部工作中地區(qū)都獲得了校正、檢測試品越來越更時不用再次校正、可以對超小型高低溫試驗箱的可接受性作出合理的評定。而它的關(guān)鍵缺陷是：不可以評定檢測試品對試驗箱所導(dǎo)致的危害。

　　二、在有負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢是：可以較為精確地評定檢測試品對試驗箱特性的危害、便于獲得檢測試品核心部件或位置的自然環(huán)境實驗的詳情。而它的關(guān)鍵缺陷是：當(dāng)拆換檢測試品時，必須再次校正。

　　三、在應(yīng)用全過程中的即時精確測量：此方式不但具備1和2上述的方式具備的優(yōu)勢，并且可以獲得檢測試品在自然環(huán)境實驗全過程中全方位的環(huán)境參數(shù)，因此在對自然環(huán)境規(guī)定很高的商品實驗時選用。它的關(guān)鍵缺陷是：每一次自然環(huán)境實驗都必須應(yīng)用精確測量機(jī)器設(shè)備，一般在試驗箱校正時選用無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下的校正方式，文中以便有利于評定試驗箱的溫度特性，也選用了此方式開展剖析。